更新時(shí)間:2024-09-03
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廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
生產(chǎn)地址:
深圳市博納德自主研發(fā)的光斑分析儀是基于高分辨率CCD 和CMOS 面陣型光斑測(cè)量?jī)x,是一款能夠?qū)崟r(shí)測(cè)量連續(xù)或脈沖激光束的實(shí)時(shí)診斷系統(tǒng)。目前包含3個(gè)不同型號(hào)產(chǎn)品,波長(zhǎng)范圍覆蓋266~1700nm,像素最小達(dá)到2.5*2.5μm,探測(cè)器面積最大可達(dá)25*25mm。
LaserCheck系列光斑分析儀不僅能實(shí)時(shí)顯示激光2D/3D圖像,導(dǎo)出光強(qiáng)分布數(shù)據(jù),且提供激光束參數(shù)實(shí)時(shí)演示和分析能力,具體測(cè)量的參數(shù)包括:光束直徑、光斑的形狀、位置、功率、強(qiáng)度分布、橢圓度等眾多參數(shù),同時(shí)還提供了報(bào)表功能,記錄光束分析設(shè)置和可實(shí)現(xiàn)激光光斑質(zhì)量檢測(cè)、光斑大小、光斑點(diǎn)穩(wěn)定性、一維、二維、三維能量分布等多參數(shù)測(cè)量,純中文操作界面,直觀友好,功能非常強(qiáng)大,目前已得到了廣大科研和工業(yè)客戶(hù)的一致認(rèn)可。為了滿足各客戶(hù)特殊需求,我司還為客戶(hù)提供定制的光束質(zhì)量分析和一體化設(shè)計(jì)解決方案,如焦點(diǎn)分析儀、近場(chǎng)分析儀,且配套各類(lèi)衰減方案和擴(kuò)束、縮束模組,滿足客戶(hù)測(cè)量上百W功率和不同大小光斑大小的測(cè)試要求。
規(guī)格參數(shù)
型號(hào) | BLC-SWIR-9070 |
感光面 | InGaAs |
波長(zhǎng)范圍 | 900-1700nm |
感光?積 | 9.6mm*7.68mm |
可測(cè)尺? | 150um-7.68mm |
像素大小 | 15um |
分辨率 | 640x512 |
位深 | 12bit |
幀數(shù) | 30 |
曝光時(shí)間 | us 到 1s |
增益 | 58dB |
觸發(fā) | |
飽和強(qiáng)度 | 0.2 μW/cm2 |
靈敏度 | |
工作溫度 | 0-50℃ |
尺寸 | |
相機(jī)?作模式 | CMOS 全局快門(mén) |
電腦接? | USB |
配套衰減器(最高功率可測(cè)量>1000W)